Implementierung der Näherungsbeziehung nichtmetallischer Einschlüsse zur erweiterten Analyse automatisierter REM/EDX Messungen

Für die Analyse nichtmetallischer Einschlüsse werden sowohl Lichtmikroskope als auch Rasterelektronenmikroskope (REM) verwendet. Lichtmikroskope werden seit vielen Jahrzehnten für Analysen verwendet, wodurch viele Normen und Richtlinien zur richtigen Interpretation von Daten verfasst wurden. Diese existieren für Rasterelektronenmikroskope praktisch nicht. Versucht man die Richtlinien für Näherungsbeziehungen nichtmetallsicher Partikel von LIMI- auf REM-Untersuchungen umzulegen, [...]