Implementierung der Näherungsbeziehung nichtmetallischer Einschlüsse zur erweiterten Analyse automatisierter REM/EDX Messungen

Implementierung der Näherungsbeziehung nichtmetallischer Einschlüsse zur erweiterten Analyse automatisierter REM/EDX Messungen

Jan Piskernik

Nr.: 140

Für die Analyse nichtmetallischer Einschlüsse werden sowohl Lichtmikroskope als auch Rasterelektronenmikroskope (REM) verwendet. Lichtmikroskope werden seit vielen Jahrzehnten für Analysen verwendet, wodurch viele Normen und Richtlinien zur richtigen Interpretation von Daten verfasst wurden. Diese existieren für Rasterelektronenmikroskope praktisch nicht. Versucht man die Richtlinien für Näherungsbeziehungen nichtmetallsicher Partikel von LIMI- auf REM-Untersuchungen umzulegen, funktioniert dies nur bedingt da hier weit höhere Vergrößerungen Ziel der Untersuchungen sind. Ziel der Bachelorarbeit ist das Definieren und Werten geeigneter Berechnungsmethode für die Ermittlung von Näherungsbeziehungen auf Basis der Daten automatisierter REM/EDX-Analysen. Nach der Evaluierung der besten Methode, soll diese in ein vorhandenes MATLAB-Tool implementiert und für zukünftige Analysen zugänglich gemacht werden.

Advisors

Susanne Michelic

assoz.Prof. Dipl.-Ing. Dr.mont.
Inclusion Metallurgy and Metallographic Lab

Alexander Mayerhofer

Dipl.-Ing.
PhD-candidate - Inclusion Detection by SEM/EDS
2020-10-16T08:26:46+02:00